产品性能分布预测方法及装置、电子设备及存储介质

摘要

一种用于集成电路的产品性能分布预测方法及装置、电子设备及存储介质。该方法包括：根据目标电流值，利用第一预测模型得到第一参数，第一参数反映集成电路的电路级性能；根据第一参数，利用拟合函数得到第二参数和漏电参数，第二参数反映集成电路的产品级性能；根据第二参数和漏电参数，利用分布模型得到目标分布，目标分布为所预测的集成电路的产品性能分布。该方法可以实现自动化流程，可以快速精准地完成硅后产品性能分布预测，能够在硅后产品所处的各个阶段进行预测，可以处理大量数据，具有较强的复用性，适用范围广。