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一种快速调整太赫兹时域光谱测量静区尺寸的装置及方法

摘要

本发明涉及一种快速调整太赫兹时域光谱测量静区尺寸的装置及方法,包括太赫兹天线、第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜、主反射镜、第一电移台、第二电移台和调整部件,第一、第二电移台均架设在光学平台上,太赫兹天线架设在第一电移台上,第一、第三反射镜分别架设在两个调整部件上,两个调整部件分别架设在第一、第二电移台上,第二反射镜固连在第二电移台一侧的光学平台上,主反射镜固连在第二电移台另一侧的光学平台上;第一反射镜移动将太赫兹天线发射的波束反射到第二反射镜或第三反射镜上,第二反射镜和第三反射镜反射波束至主反射镜上,本发明提高太赫兹时域光谱散射测量系统目标测试尺寸选择灵活性的优点。

著录项

  • 公开/公告号CN111879238B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京环境特性研究所;

    申请/专利号CN202010761630.6

  • 申请日2020-07-31

  • 分类号G01B11/00(20060101);G02B17/06(20060101);G02B7/182(20210101);

  • 代理机构11609 北京格允知识产权代理有限公司;

  • 代理人周娇娇

  • 地址 100854 北京市海淀区永定路50号

  • 入库时间 2022-08-23 13:02:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-01-28

    授权

    发明专利权授予

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