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用于波束成形测量的具有定位系统的测量系统和测量方法

摘要

本发明涉及用于波束成形测量的具有定位系统的测量系统和测量方法。提供了一种包括测量天线(6)、链路天线(7)和定位系统(2)的测量系统(1)。测量天线(6)配置用于在被测设备(4)上执行无线电测量。链路天线(7)配置成执行与被测设备(4)通信。定位系统(2)包括第一旋转定位器(24),第一旋转定位器(24)配置成使被测设备(4)围绕第一轴线(c)旋转。定位系统(2)还包括第二旋转定位器(26),第二旋转定位器(26)配置成使测量天线(6)围绕第二轴线(a)旋转。第一旋转定位器(24)连接至链路天线(7)且由此配置成使链路天线(7)绕着第一轴线(c)围绕被测设备(4)旋转。

著录项

  • 公开/公告号CN109286453B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 罗德施瓦兹两合股份有限公司;

    申请/专利号CN201710952164.8

  • 发明设计人 科比特·罗威尔;文森特·阿巴迪;

    申请日2017-10-13

  • 分类号H04B17/15(20150101);H04B17/29(20150101);H04B7/06(20060101);H04B7/08(20060101);

  • 代理机构11291 北京同达信恒知识产权代理有限公司;

  • 代理人黄志华;何月华

  • 地址 德国慕尼黑

  • 入库时间 2022-08-23 13:02:31

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