一种基于白光干涉测量表面形貌的双轴残余应力引入装置

摘要

本发明公开了一种基于白光干涉测量表面形貌的双轴残余应力引入装置，包括：上夹具和下夹具，所述上夹具和下夹具均为十字形结构，所述上夹具与下夹具为可拆卸连接，所述下夹具的表面中间开设有十字形凹槽，所述十字形凹槽内对称分布有多个试件定位柱，多个所述试件定位柱的顶端放置有试件，所述试件定位柱的顶端表面与试件的底端表面相接触；本发明提供的残余应力引入装置可以施加任意二向的拉应力和压应力，操作简单，残余应力施加数值大小可人为控制，且施加残余应力不必对试件造成破坏。利用该装置施加残余应力并进行压痕压入后，可在保持残余应力不卸载的前提下利用白光干涉仪器进行表面形貌观察。