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一种表面小型凸起引起涡流后受力的测量装置和测量方法

摘要

本发明公开了一种表面小型凸起引起涡流后受力的测量装置和测量方法,该测量结构包括:第一平板、第二平板、水平天平、垂直天平、托架、凸起结构和顶部开口的水密筒;托架通过水平天平和固定在水密筒内;凸起结构安装在托架上;第一平板和第二平板对称安装在水密筒的顶部开口两端;水密筒内填充有液体,水平天平位于所述液体的液面之下。本发明以较非接触的局部受力测量方式,取得局部小型凸起的受力过程。

著录项

  • 公开/公告号CN111024356B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-12-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国运载火箭技术研究院;

    申请/专利号CN201911167033.4

  • 申请日2019-11-25

  • 分类号G01M9/02(20060101);G01M9/06(20060101);

  • 代理机构11009 中国航天科技专利中心;

  • 代理人臧春喜

  • 地址 100076 北京市丰台区北京9200信箱38分箱

  • 入库时间 2022-08-23 12:55:33

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