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韦布尔杂波环境下基于偏斜度的恒虚警检测方法

摘要

本发明公开了一种韦布尔杂波环境下基于偏斜度的恒虚警检测方法。对韦布尔分布杂波参考单元进行对数变换,其分布转变为Gumbel分布。对于独立同分布的Gumbel分布参考单元,其偏斜度为一常数,当参考滑窗中参考单元数量确定后,设定偏斜度门限,计算参考单元的统计量偏斜度,若偏斜度大于偏斜度门限,认为参考单元中存在干扰目标,且干扰目标为参考滑窗中幅度最大的参考单元,将其从参考滑窗中剔除。参考滑窗中存在干扰目标的判断与剔除策略按照上述方法进行迭代处理,直至不存在干扰目标。使用剩余参考单元采用Log‑T CFAR门限计算方法计算检测门限,从而判断是否存在干扰目标。本发明极大地提升了目标的检测性能。

著录项

  • 公开/公告号CN108614244B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京理工大学;

    申请/专利号CN201611140540.5

  • 申请日2016-12-12

  • 分类号G01S7/36(20060101);

  • 代理机构32203 南京理工大学专利中心;

  • 代理人王玮

  • 地址 210094 江苏省南京市孝陵卫200号

  • 入库时间 2022-08-23 12:54:55

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