公开/公告号CN110333198B
专利类型发明专利
公开/公告日2022-01-04
原文格式PDF
申请/专利权人 上海集成电路研发中心有限公司;
申请/专利号CN201910661334.6
申请日2019-07-22
分类号G01N21/31(20060101);G01N21/01(20060101);
代理机构31275 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙);
代理人吴世华;马盼
地址 201210 上海市浦东新区张江高斯路497号
入库时间 2022-08-23 12:54:12
机译: 电控光学采样系统和方法以及TERAHERTZ时域光谱仪
机译: 一种固体材料采样方法及执行该方法的采样系统
机译: 一种固体材料采样方法及执行该方法的采样系统