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在强脉冲X射线环境使用的中子计数方法及计数器

摘要

本发明公开了一种在强脉冲X射线环境使用的中子计数方法及计数器,该方法包括慢化体、正比计数管、隔离电阻、隔离电容、放大电路、电缆和脉冲电源电路;脉冲电源电路,用于基于脉冲发生器生成的脉冲信号产生脉冲电压,并经电缆和隔离电阻发送给正比计数管;正比计数管,用于基于脉冲电压产生原始计数脉冲信号,并经隔离电容发送给放大电路,原始计数脉冲信号携带有偏压信号;放大电路,用于隔离原始计数脉冲信号携带的偏压信号,获取有效计数脉冲信号,并发送给示波器,以避开正比计数管被脉冲X射线辐照产生电子至电子被气体吸收之前的时间间隔,使得由X射线辐照电离产生的电子不因电场加速而增多,提高中子计数的准确性。

著录项

  • 公开/公告号CN111413729B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202010406302.4

  • 发明设计人 王昆仑;张思群;任晓东;

    申请日2020-05-14

  • 分类号G01T3/00(20060101);

  • 代理机构51220 成都行之专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人张超

  • 地址 621000 四川省绵阳市绵山路64号

  • 入库时间 2022-08-23 12:54:02

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