首页> 中国专利> 一种同心锥TEM室场均匀性校准方法

一种同心锥TEM室场均匀性校准方法

摘要

本申请公开了一种同心锥TEM室场均匀性校准方法,包括:将场强探头放入同心锥TEM室场均匀区中心,记为初始位置;调节TEM室输入频率至下限试验频率,馈入能产生标准场强的恒定前向功率,记录所述初始位置的场强读数和前向功率;保持所述前向功率不变,围绕初始位置,沿不同方向确定第一位置、第二位置、第三位置和第四位置,四个位置形成的区域大小,能够将场强探头包围,且与初始位置场强相差绝对值均不大于设定范围;步进调节输入频率至试验频率上限,重复上述步骤,得到同心锥TEM室场均匀区。本申请填补了同心锥TEM室场均匀性校准方法空白,能够快速、准确地进行场均匀性校准。

著录项

  • 公开/公告号CN110954754B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京无线电计量测试研究所;

    申请/专利号CN201911214486.8

  • 发明设计人 彭博;黄承祖;刘星汛;齐万泉;

    申请日2019-12-02

  • 分类号G01R29/08(20060101);G01R35/00(20060101);

  • 代理机构11315 北京国昊天诚知识产权代理有限公司;

  • 代理人李潇

  • 地址 100854 北京市海淀区永定路50号142信箱408分箱

  • 入库时间 2022-08-23 12:51:50

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号