公开/公告号CN112432862B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-11-16
原文格式PDF
申请/专利权人 上海交通大学;上海核工程研究设计院有限公司;
申请/专利号CN202011225389.1
申请日2020-11-05
分类号G01N3/20(20060101);G01N3/02(20060101);G01N1/32(20060101);B23K37/00(20060101);
代理机构31225 上海科盛知识产权代理有限公司;
代理人顾艳哲
地址 200240 上海市闵行区东川路800号
入库时间 2022-08-23 12:48:09
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2023-05-23
专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G01N 3/20 专利号:ZL2020112253891 变更事项:专利权人 变更前:上海交通大学 变更后:上海交通大学 变更事项:地址 变更前:200240 上海市闵行区东川路800号 变更后:200240 上海市闵行区东川路800号 变更事项:专利权人 变更前:上海核工程研究设计院有限公司 变更后:上海核工程研究设计院股份有限公司
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
机译: 热裂纹敏感性材料的电阻熔覆和焊接方法
机译: 评估再热裂纹敏感性的方法和抑制再热裂纹的方法
机译: 再热裂纹敏感性评估方法和再热裂纹抑制方法