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以THz波为光源的红外热波检测系统

摘要

本发明涉及一种新的热波检测系统,它采用THz波作为热源对物体进行加热,并使用热成像仪监测试件表面温度场的变化和这种变化的出现与所施加的THz波热源在位相上的关系。其中采用同步或时序控制器来控制THz波的发射和成像仪的检测。利用计算机对所获得的数据进行热波传输计算处理和数据拟合,从得到的温度场变化信息获得材料内部缺陷和非均匀性信息。

著录项

  • 公开/公告号CN100491970C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-05-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN03128761.1

  • 发明设计人 张存林;金万平;

    申请日2003-05-23

  • 分类号

  • 代理机构北京诺孚尔知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人庞涛

  • 地址 100037 北京市海淀区西三环北路105号首都师范大学物理系

  • 入库时间 2022-08-23 09:02:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-07-10

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/17 授权公告日:20090527 终止日期:20120523 申请日:20030523

    专利权的终止

  • 2009-05-27

    授权

    授权

  • 2006-03-01

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-11-24

    公开

    公开

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