首页> 中国专利> 使用强度调制的X射线源的系统及方法

使用强度调制的X射线源的系统及方法

摘要

本发明关注一种具有多个探测器和控制器的X射线扫描系统,其中a)控制器被配置成接收并识别由至少一个探测器探测的最小X射线透射等级,b)控制器将最小X射线透射等级与至少一个预定阈值透射等级进行比较,以及c)基于所述比较,控制器产生调节信号。本发明进一步包括X射线源,其中X射线源接收调节信号并被配置成基于所述调节信号来调节X射线脉冲持续时间。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号