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一种测量和预测结晶器内真实初凝坯壳厚度的系统和方法

摘要

本发明提供一种测量和预测结晶器内真实初凝坯壳厚度的系统和方法,该系统包括信息采集模块、漏钢坯壳微观组织测量模块、结晶器初凝坯壳厚度生长预测模块和结果输出模块;该方法包括:采集连铸结晶器设备参数和工艺参数;漏钢坯壳微观凝固组织侵蚀;划分漏钢坯壳中的稳态坯壳层、额外凝固层和粘附层的厚度;建立漏钢过程模型,求解钢液下降速率和漏钢时间,结合铸坯传热计算粘附层厚度,进而利用凝固系数计算稳态坯壳层和额外凝固层的厚度;将测量和预测的结晶器内真实初凝坯壳厚度输出并显示。本发明能够通过连铸漏钢坯壳来准确测量和预测结晶器内真实初凝坯壳厚度。

著录项

  • 公开/公告号CN110851997B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京科技大学;

    申请/专利号CN201911214965.X

  • 申请日2019-12-02

  • 分类号G06F30/20(20200101);B22D11/16(20060101);

  • 代理机构11401 北京金智普华知识产权代理有限公司;

  • 代理人皋吉甫

  • 地址 100083 北京市海淀区学院路30号

  • 入库时间 2022-08-23 12:38:54

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