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一种高频高精度空间电场测量系统及方法

摘要

本发明涉及空间电场测量技术,具体涉及一种高频高精度空间电场测量系统及方法,该系统包括待测电场区域,半导体激光器、第一、第二偏振控制模块、判断控制器、电光探针;半导体激光器通过保偏光纤分别与第一、第二偏振控制模块相连,第一、第二偏振控制模块通过保偏光纤与电光探针连接,第一、第二偏振控制模块均与判断控制器连接。该测量系统采用了工作频率较高的CdTe晶体作为电光探针,能够实现对高频空间电场的测量;基于电光效应的原理,不会对待测的空间电场造成影响;使用差分电路,能够减小环境随机噪声对本测量仪器的影响;在一个周期内进行两次并行检测,提高了本测量系统的准确性和可靠性。

著录项

  • 公开/公告号CN112198374B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉大学;

    申请/专利号CN202011055263.4

  • 申请日2020-09-30

  • 分类号G01R29/12(20060101);G01R29/08(20060101);G01R15/24(20060101);

  • 代理机构42222 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人彭艳君

  • 地址 430072 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学

  • 入库时间 2022-08-23 12:38:29

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