用于精密部件厚度测量的信号处理方法及测量方法

摘要

本发明涉及精密部件测量技术领域，尤其涉及用于精密部件厚度测量的信号处理方法及测量方法；本发明包括有以下步骤：A、采集包含多次回波的初始射频信号；B、提取自身的特征回波信号；C、根据波动趋势特征对采集的初始射频信号进行筛选，获得相似性曲线；D、根据幅度特征对采集的初始射频信号进行筛选，得到最佳匹配曲线；E、采用预期壁厚值来剔除最佳匹配曲线中的异常点，得到校正匹配曲线；F、基于校正匹配曲线采用线性回归方式计算其回归直线的斜率，即得到被测工件两壁回波时间差的平均值；通过本发明的方法能够准确提取到高噪声环境中的高次回波信号，在保证信号分析速度的同时提高信号周期测量精度，提高精密部件壁厚的测量精度。