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光子计数能谱CT成像中自适应能谱优化方法及其应用

摘要

本公开涉及一种光子计数能谱CT成像中自适应能谱优化方法及其应用,该方法包括:利用不同入射能谱条件下的空气测量数据,结合光子计数能谱CT成像有效物理模型,获得各像素的能谱和阈值不一致性差异;建立CT系统多色投影值与单色投影值的硬化函数关系,并依据该硬化函数关系进行逐像素的能谱优化修正。本公开结合含不一致性因子的CT物理模型和系统实际测量数据,能够最大程度地修正能谱CT不一致性。本公开通过系统自身设备进行快速准确的能谱修正,而不依赖于荧光等外部设备标定,有效减少环状伪影,提高成像质量,实现对物质成分的识别,在医疗成像、安全检查等领域都具有很高的实用价值,为光子计数能谱CT成像实用化提供有力支持。

著录项

  • 公开/公告号CN111707688B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN202010562558.4

  • 申请日2020-06-18

  • 分类号G01N23/046(20180101);G01T1/36(20060101);G01T7/00(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人任岩

  • 地址 100084 北京市海淀区清华园1号

  • 入库时间 2022-08-23 12:34:03

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