公开/公告号CN109030136B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-09-28
原文格式PDF
申请/专利权人 山西太钢不锈钢股份有限公司;
申请/专利号CN201810643821.5
申请日2018-06-21
分类号G01N1/28(20060101);C22C38/02(20060101);C22C38/04(20060101);C22C38/44(20060101);C22C38/50(20060101);C22C38/48(20060101);
代理机构11534 北京奥文知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人张文;苗丽娟
地址 030003 山西省太原市尖草坪2号
入库时间 2022-08-23 12:33:33
机译: 近场光谱分析的标准样品,以及使用相同标准样品的空间分辨率评估方法
机译: 非破坏检查标准样品的制备方法,非破坏检查标准样品和使用该方法的非破坏检查方法
机译: 用于评估硅单晶晶片的标准样品,其制备方法和使用标准样品的评估方法