首页> 中国专利> 干涉型成像光谱仪内方位元素及畸变标定方法

干涉型成像光谱仪内方位元素及畸变标定方法

摘要

为解决传统平行光管加二维转台的相机内方位元素及畸变标定装置所存在的标定精度低的问题,本发明提出了一种干涉型成像光谱仪内方位元素及畸变标定方法。装置包括积分球光源、平行光管、二维转台、高精度立方镜、高精度测角装置和自准直经纬仪;高精度立方镜设置在被测干涉型成像光谱仪上,且其一个镜面与被测干涉型成像光谱仪的光轴垂直;高精度测角装置设置在二维转台的后方,与高精度立方镜形成自准直光路,用于实现被测干涉型成像光谱仪视场角的测定;自准直经纬仪设置在平行光管和二维转台之间,自准直经纬仪能观察到平行光管焦面处的十字丝靶标,并且经旋转后同时可观察到高精度立方镜反射回来的自准直像。

著录项

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号