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基于改进正余弦算法的模拟电路单故障诊断方法

摘要

本发明公开了一种基于改进正余弦算法的模拟电路单故障诊断方法,首先分析得到模拟电路的传输函数和模糊组,每个模糊组选择一个代表性故障元件,当模拟电路出现故障时测量得到故障电压相量,将元件参数向量作为种群个体,在个体进化过程中采用老师监督策略、正余弦算法、反思学习,生成子种群与父种群合并后,将每个个体根据传输函数计算得到的输出电压相量和故障电压相量之间的欧式距离作为适应度值,结合反向学习确定下一代种群,最后一代种群中最优个体中参数值位于故障范围内的代表性故障元件即为故障诊断结果。本发明利用改进的正余弦算法找出与故障响应最接近的模拟电路传输函数参数,进而准确确定故障源。

著录项

  • 公开/公告号CN112485652B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN202011426792.0

  • 发明设计人 鲜航;杨成林;杨小燕;

    申请日2020-12-09

  • 分类号G01R31/316(20060101);

  • 代理机构51220 成都行之专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人温利平

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2022-08-23 12:27:59

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