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一种晶体振荡器电性能测试系统

摘要

本申请实施例中提供了一种晶体振荡器电性能测试系统,该系统包括:第一电源接口,用于接入测试电源;第二电源接口,用于接入加电预热电源;多个通断切换模块,基于第一外部控制信号,连接或断开待测试晶体振荡器;选择测试模块,选择待测试晶体振荡器,并对其进行测试项目匹配;多个匹配接口,用于与外部测试仪器连接,并根据所述测试项目匹配与外部测试仪器进行信号传输。本方案通过采用计算机自动控制和多通道良好隔离的方式,实现了多种晶体振荡器的多性能参数的批量测试,并且可方便的进行测试设备及测试晶体振荡器数量的扩展,有效降低了人工操作的复杂度,提高了测试精度和测试效率。

著录项

  • 公开/公告号CN108957282B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京无线电计量测试研究所;

    申请/专利号CN201811172710.7

  • 申请日2018-10-09

  • 分类号G01R31/00(20060101);G01R1/02(20060101);G01R1/04(20060101);

  • 代理机构11257 北京正理专利代理有限公司;

  • 代理人付生辉;金跃

  • 地址 100854 北京市海淀区142信箱408分箱

  • 入库时间 2022-08-23 12:27:43

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