首页> 中国专利> 一种用于精确测量LTE上行功率的场强测量方法及装置

一种用于精确测量LTE上行功率的场强测量方法及装置

摘要

本发明提供一种用于精确测量LTE上行功率的场强测量方法及装置,包括射频接收,对LTE基站发射的信号及LTE手机终端发射的信号进行采集,将采集的信号幅度控制到固定的幅度之内,计算出对应的增益值,存储为AGC参数;上行测量,前端处理、信道估计和RSRP测量,并根据AGC参数进行AGC补偿;上行译码及加权处理,进行CRC译码,实现基于CRC校验结果的RSRP加权处理,获取精确的上行信号功率测量值,传递呈现给用户。本发明能够结合AGC增益值对RSRP进行补偿,使RSRP更加准确;简化AGC补偿的过程,提高系统性能;结合CRC译码的结果对测量的UL_RSRP进行加权,提高了测量的准确性。

著录项

  • 公开/公告号CN108848525B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉虹信科技发展有限责任公司;

    申请/专利号CN201810869998.7

  • 发明设计人 俞林宏;邓风;倪霞;

    申请日2018-08-02

  • 分类号H04W24/08(20090101);H04B17/318(20150101);H04B17/327(20150101);

  • 代理机构42222 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人严彦

  • 地址 430205 湖北省武汉市江夏经济开发区藏龙岛谭湖二路1号

  • 入库时间 2022-08-23 12:25:32

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号