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一种基于1bit量化的相位模糊检测校正方法

摘要

本发明涉及一种基于1bit量化的相位模糊检测校正方法,其步骤:设置包括信号截断模块、1bit量化模块、1bit相关运算模块和硬判决模块的相位检测模块和相位校正模块;射频捷变收发器0、1的接收机将接收到经过功分器回送回来的TX_0信号进行数字化分别得到I路和Q路数字信号,选取I路信号作为待检测数字信号;待检测数字信号进入信号截断模块进行截取处理,得到点数长度为L点的数字信号,经1bit量化模块后进入1bit相关运算模块内,得到判决值输入硬判决模块,确定待检测数字信号的相位关系,并发送给相位校正模块,相位校正模块向基带信号生成模块发送校正使能信号,完成相位模糊检测校正。

著录项

  • 公开/公告号CN110311740B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京信息科技大学;

    申请/专利号CN201910495940.5

  • 发明设计人 徐湛;王子樵;陈晋辉;职如昕;

    申请日2019-06-10

  • 分类号H04B17/14(20150101);H04B17/21(20150101);

  • 代理机构11513 北京远创理想知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人张素妍

  • 地址 100192 北京市海淀区清河小营东路12号

  • 入库时间 2022-08-23 12:24:02

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