公开/公告号CN107944104B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-08-10
原文格式PDF
申请/专利权人 北京宇航系统工程研究所;中国运载火箭技术研究院;
申请/专利号CN201711125091.1
申请日2017-11-14
分类号G06F30/20(20200101);
代理机构11009 中国航天科技专利中心;
代理人张晓飞
地址 100076 北京市丰台区南大红门路1号内35栋
入库时间 2022-08-23 12:17:39
机译: 一种用于检查芯片堆叠半导体装置的方法以及一种使用能够快速检查芯片之间的连接故障的能力来制造芯片堆叠半导体装置的方法
机译: 用于通过共振磁共振方法通过缓慢和快速的方法来检查身体的设备,特别是用于检查该身体的表层的设备,一种用于为这种设备产生磁场梯度的设备,其应用是人体皮肤的图像。
机译: 具有上下矫直辊的矫直机,以及一种用于在矫直机上简单快速地检查,检查和维护上矫直辊的方法