倍。本发明的工业摄影测量基准尺适用于为工业摄影测量提供长度基准或者对工业摄影测量的相机参数进行标定,能够提高摄影测量仪器的测量精度。"/>
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公开/公告号CN108827156B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-08-10
原文格式PDF
申请/专利权人 合肥工业大学;
申请/专利号CN201810970233.2
发明设计人 李维诗;李治城;张瑞;于连栋;夏豪杰;
申请日2018-08-24
分类号G01B11/00(20060101);
代理机构34112 安徽合肥华信知识产权代理有限公司;
代理人余成俊
地址 230009 安徽省合肥市包河区屯溪路193号
入库时间 2022-08-23 12:17:29
机译: 宏微复合光栅尺测量系统及使用该系统的测量方法,包括宏读取模块,微读取模块和测量基准线
机译: 工件标记设备具有沿测量尺调整的标记笔或激光指示器,该标记笔或激光指示器沿测量基准移动,并沿工件参考边缘移动
机译: 一种新的工业成果,由一系列静态图片组成,这些静态图片表示生活场景的所有细节中的连续瞬间,这是通过摄影放大摄影机和机器的组合获得的。
机译:圆锥角膜胶原交联引起的定量和定性角膜光学相干断层扫描结果的介绍:一种新型的效果测量基准
机译:1943年来自中国的一种新的井上Epilobophora Inoue属(鳞翅目:尺metri科,Larentiinae)。 1943年来自中国的一种新的井上Epilobophora Inoue属(鳞翅目:尺metri科,Larentiinae)。
机译:一种优化用于多材料工件尺寸测量的工业X射线计算机断层摄影中成像参数的分析方法
机译:一种使用形状连续性约束和非度量摄影机绘制平滑非平面物体的近距离摄影测量系统。
机译:使用一种新的参与方法改善临床实践:测量基准和反馈纵向研究
机译:ISPRS多平台摄影测量基准
机译:在1:10,000和1:5,000的比例下使用1:25,000的摄影测量地图作为摄影测量基准的可能性 - 捷克斯洛伐克 - 。