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X射线荧光(XRF)光谱分析系统和方法

摘要

本申请提供一种X射线荧光(XRF)光谱分析系统和方法,所述系统包括至少一个X射线光源(1)、至少一个探测器(4)和至少一个衍射光学部件(3),所述衍射光学部件收集所述X射线光源发出的原级X射线,所述原级X射线经所述衍射光学部件衍射后得到单波长X射线,所述单波长X射线用以激发被测样品(5)中的被测元素发射荧光X射线,所述探测器收集并分析所述荧光X射线;所述探测器收集的光线中还包括,单波长X射线被被测样品散射而产生的散射线;所述原级X射线、所述单波长X射线和所述荧光X射线构成单波长偏振消光光路,使所述散射线偏振消光,用以降低或消除单波长X射线在被测样品中散射所引起的背景强度。

著录项

  • 公开/公告号CN108802081B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-30

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京安科慧生科技有限公司;

    申请/专利号CN201710285264.X

  • 发明设计人 刘小东;李伯伦;滕云;

    申请日2017-04-27

  • 分类号G01N23/223(20060101);

  • 代理机构11018 北京德琦知识产权代理有限公司;

  • 代理人谢安昆;宋志强

  • 地址 100200 北京市朝阳区管庄大院北京五色石宾馆212室

  • 入库时间 2022-08-23 12:13:50

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