公开/公告号CN108802081B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-07-30
原文格式PDF
申请/专利权人 北京安科慧生科技有限公司;
申请/专利号CN201710285264.X
申请日2017-04-27
分类号G01N23/223(20060101);
代理机构11018 北京德琦知识产权代理有限公司;
代理人谢安昆;宋志强
地址 100200 北京市朝阳区管庄大院北京五色石宾馆212室
入库时间 2022-08-23 12:13:50
机译: 探测样品的X射线荧光(XRF)分析的方法和系统
机译: 探索样品的X射线荧光分析(XRF)方法和系统。
机译: 用于勘探样品的X射线荧光(XRF)分析的方法和系统