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用于同位素测量的加速器质谱装置

摘要

本发明的实施例提供了一种用于同位素测量的加速器质谱装置,其包括离子源、注入系统、加速管、气体剥离系统、分析系统以及探测系统,其中,离子源与注入系统连接,注入系统的输出端与加速管连接,加速管的输出端与气体剥离系统连接,气体剥离系统的输出端与分析系统连接,分析系统连接至探测系统;离子源用于产生同位素负离子;注入系统对同位素负离子进行分离,并且使同位素负离子交替注入加速管;加速管对经注入系统分离后的负离子进行加速;气体剥离系统将加速后的负离子转化为正离子,同时将分子离子瓦解;分析系统对正离子进行分析后将正离子送入探测系统,探测系统对上述正离子进行测量。本发明的装置结构紧凑、涉及的操作流程简单。

著录项

  • 公开/公告号CN111157605B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国原子能科学研究院;

    申请/专利号CN202010002369.1

  • 申请日2020-01-02

  • 分类号G01N27/62(20210101);H01J49/00(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人张成新

  • 地址 102413 北京市房山区新镇三强路1号院

  • 入库时间 2022-08-23 12:09:27

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