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一种用于研究颗粒运动轨迹的取样装置

摘要

本申请提供一种用于研究颗粒运动轨迹的取样装置,包括长底板;长底板上沿轴线方向依次设有通过连接机构连接的投料管和多个取样管;投料管上设有至少两个投料口,远离取样管一端设有动力机构;连接机构包括隔板和滑槽;隔板沿滑槽的方向设有两个工位;两个工位上分别对应取样管设有相应的第一通孔和第二通孔;第一通孔内可拆卸安装有用于封堵取样管的端盖;取样管通过滑板安装在滑槽上;投料管与相邻的第二通孔连接。根据本申请实施例提供的技术方案,取样管通过沿滑槽滑动可以与相邻的投料管/取样管连通或分离,取样时,只需将取样管沿滑槽滑动至第一通孔处,将端盖安装在取样管后便可随意取出,取样管中的颗粒处于充满状态,不会发生变动。

著录项

  • 公开/公告号CN111220351B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 河北工业大学;

    申请/专利号CN202010041313.7

  • 发明设计人 陶友瑞;黄震;

    申请日2020-01-15

  • 分类号G01M10/00(20060101);G01N21/84(20060101);G01N23/046(20180101);

  • 代理机构12233 天津市鼎拓知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘雪娜

  • 地址 300400 天津市北辰区双口镇西平道5340号

  • 入库时间 2022-08-23 12:09:26

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