首页> 中国专利> 一种强散射材料的光热效应测量系统及其测量方法

一种强散射材料的光热效应测量系统及其测量方法

摘要

本发明公开了一种强散射材料的光热效应测量系统及其测量方法,涉及材料无损检测技术领域,本发明包括计算机、函数信号发生器、激光器、用于放置待测材料的测试平台、聚光组件、与计算机电连接的信号反馈组件、光路转换器和空间光调制器SLM,光路转换器与激光器设置于同一水平高度上,空间光调制器SLM与计算机电连接,测试平台设置于光路转换器的正下方,聚光组件用于聚集调制变化的激光照射到样件后由于存在光热效应,样件出现温度涨落与红外辐射,将经被测材料产生的辐射信号收集反射至信号反馈组件,本发明采用空间光调制器SLM进行波前调控,补偿散射相位,从而提高吸收效应,减小材料特性测量中的强散射,增强了材料表面的红外辐射信号。

著录项

  • 公开/公告号CN108760645B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201810526943.6

  • 申请日2018-05-29

  • 分类号G01N21/17(20060101);

  • 代理机构51230 成都弘毅天承知识产权代理有限公司;

  • 代理人李龙

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2022-08-23 12:08:54

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号