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用于光源、探测器与分析器的附接与对准设备,以及模块分析系统

摘要

本发明涉及用于光源、探测器与分析器的附接与对准装置,以及模块分析系统,并且提供了一种用于结合光学分析系统的两个或多个单独部件的设备,以使用跨越诸如栈、燃烧室、导管或管道的测量空间的光学测量的共同入口与出口穿孔,从而以从相应的光源到探测器的光学路径基本上相同的方式,使得在诸如温度与压力分布和背景物质浓度的等效周围环境条件的情况下能够在单个光学路径或紧密对准的光学路径上方进行多个光学测量。此设备与形成模块系统的一组相互可连接的设备是有用的,例如,在吸收光谱中,诸如用于测量在测量体积中的流体的化学组分的数量分数。

著录项

  • 公开/公告号CN104977273B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 仕富梅集团公司;

    申请/专利号CN201510162293.8

  • 申请日2015-04-07

  • 分类号G01N21/39(20060101);G01N21/15(20060101);

  • 代理机构11332 北京品源专利代理有限公司;

  • 代理人杨生平;钟锦舜

  • 地址 英国东萨塞克斯

  • 入库时间 2022-08-23 12:02:04

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