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一种用于电容层析成像的不完整测量数据成像方法

摘要

本发明涉及一种运用不完整测量数据的电容层析成像方法,包括下列步骤:ECT系统测量通道正常情况下获取测量数据用于训练回归模型;在测量故障通道已知的情况下,将用于训练回归模型的测量数据中与故障通道对应的测量值置0;将置0处理后的用于训练回归模型的测量数据通过灵敏度矩阵求解反问题和正问题,得到完整测量数据的近似恢复值,组成训练样本;训练样本聚类,得到带标签的训练样本;运用径向基核函数的LS‑SVM建立回归模型;获得回归模型的测试样本;步骤七:运用RF算法对测试样本分类;基于总变分量最小化算法进行成像。

著录项

  • 公开/公告号CN110186962B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津大学;

    申请/专利号CN201910388082.4

  • 发明设计人 崔自强;夏子涵;

    申请日2019-05-10

  • 分类号G01N27/22(20060101);

  • 代理机构12201 天津市北洋有限责任专利代理事务所;

  • 代理人程毓英

  • 地址 300072 天津市南开区卫津路92号

  • 入库时间 2022-08-23 12:01:28

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