首页> 中国专利> 一种基于二元维纳过程的轴承剩余寿命预测方法

一种基于二元维纳过程的轴承剩余寿命预测方法

摘要

一种基于二元维纳过程的轴承剩余寿命预测方法,包括以下步骤:1)采集轴承退化阶段垂直方向和水平方向上的振动信号;2)分别计算两个方向上振动信号的有效值,将获得的有效值作为轴承的两个退化性能指标;3)检验分析性能指标的增量是否服从正态分布;4)利用二元维纳过程构建轴承退化模型;5)利用AIC信息准则选择合适的Copula函数描述两个性能指标间的相关特性,获得轴承剩余寿命的联合概率密度函数,采用极大似然估计法在线更新模型参数,预测轴承剩余寿命。本发明所需训练样本少、耗时较短、预测精度较高。

著录项

  • 公开/公告号CN108304348B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江工业大学;

    申请/专利号CN201810093716.9

  • 发明设计人 金晓航;李建华;

    申请日2018-01-31

  • 分类号G06F30/17(20200101);G06F17/15(20060101);G06F119/04(20200101);

  • 代理机构33241 杭州斯可睿专利事务所有限公司;

  • 代理人王利强

  • 地址 310014 浙江省杭州市下城区潮王路18号浙江工业大学

  • 入库时间 2022-08-23 11:59:29

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号