一种基于半导体性质评价镀锡板表面钝化膜特性的方法

摘要

本发明属于镀锡钢板表面质量的生产控制技术领域，公开了一种基于半导体性质评价镀锡板表面钝化膜特性的方法，通过测试不同镀锡板表面钝化膜的Mott‑Schottky曲线来确定其半导体类型，再根据Mott‑Schottky方程算出载流子密度和受体/供体，进而评价有利于镀锡板表面涂饰性的膜成分比例。本发明操作简单、误差小，可表征不同钝化膜结构的镀锡板，根据不同的需求来调控镀锡板钝化膜组成，为镀锡板的实际生产提供了依据。