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一种基于差商分析的土裂隙分形维数计算方法

摘要

本发明涉及一种基于差商分析的土裂隙分形维数计算方法,包括以下步骤:1)对原始彩色裂隙图片进行灰度化和二值化处理,得到裂隙二值图;2)采用多个不同边长r的正方形网格覆盖含有裂隙的网络区域,统计裂隙穿过的正方形的累计个数N;3)对多个边长‑个数对(r,N)取自然对数,得到(ln(1/r),ln(N))序列,在坐标系下绘制ln(N)‑ln(1/r)的散点;4)基于差商分析法获取同时满足ln(N)‑ln(1/r)一阶差商值在1~2之间缓慢递减和二阶差商绝对值小于1两个条件的区间作为裂隙网络的无标度区;5)在无标度区内采用基于最小二乘法用直线拟合ln(N)‑ln(1/r)散点,得到的直线斜率即为土裂隙的分形盒维数。与现有技术相比,本发明具有首创性、计算可靠、标准可行等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN109146888B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 同济大学;

    申请/专利号CN201810737222.X

  • 发明设计人 蔡奕;蔡万贤;吴乔枫;石涛;

    申请日2018-07-06

  • 分类号G06T7/11(20170101);G06T7/00(20170101);G06F17/15(20060101);G06T7/136(20170101);G06T7/62(20170101);

  • 代理机构31225 上海科盛知识产权代理有限公司;

  • 代理人杨宏泰

  • 地址 200092 上海市杨浦区四平路1239号

  • 入库时间 2022-08-23 11:54:34

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