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一种基于参考电极的脑电坏导插值方法

摘要

本发明公开了一种基于参考电极的脑电坏导插值方法,包括以下重建步骤;S1:利用脑电采集系统得到原始分布坐标和原始脑电信号;S2:剔除异常导联,得到剔除坏导后头表电极的分布坐标;S3:计算剔除异常导联后电信号的平均矩阵;S4:根据剔除坏导后分布坐标、头模型和等效分布源模型计算出剔除坏导后平均参考导联场矩阵;S5:根据平均矩阵计算出等效分布源,计算出广义逆矩阵;S6:根据原始分布坐标、头模型和等效分布源模型计算原始导联场矩阵。S7:根据等效分布源和原始导联场矩阵,重建所有头表电极电信号的无穷远矩阵;S8:获取重建后的坏导脑电波形。本发明能够有效减少参考点电位对坏导重建结果的影响。

著录项

  • 公开/公告号CN111513711B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN202010444340.9

  • 申请日2020-05-22

  • 分类号A61B5/369(20210101);A61B5/00(20060101);G06K9/00(20060101);

  • 代理机构51308 成都鱼爪智云知识产权代理有限公司;

  • 代理人赵晨宇

  • 地址 611730 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2022-08-23 11:53:51

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