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一种厚壁圆管内部残余应力的测量方法

摘要

本发明公开了一种厚壁圆管内部残余应力的测量方法,涉及残余应力检测领域。该方法包括以下步骤:测量圆管外表面残余应力真实值;车削圆管外表面,壁厚剥除h1;对圆管继续进行电解抛光,壁厚进一步剥除h2,形成对圆管进行第1次剥层后的新表面,测量此时新表面的半径值r1;测量新表面残余应力测量值;采用改进的修正公式计算半径r1处的轴向、环向、径向残余应力真实值;重复车削抛光至计算步骤,直至ri=1.2a,ri为对圆管进行第i次剥层后形成的新表面对应的半径值;计算得到圆管内表面轴向和环向残余应力真实值。本发明提供的测量方法简单,结果可靠,重复性好,适用于厚壁圆管内部残余应力的测定。

著录项

  • 公开/公告号CN111337174B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京科技大学;

    申请/专利号CN202010208148.X

  • 发明设计人 张津;连勇;徐伟生;

    申请日2020-03-23

  • 分类号G01L5/00(20060101);

  • 代理机构11401 北京金智普华知识产权代理有限公司;

  • 代理人皋吉甫

  • 地址 100083 北京市海淀区学院路30号

  • 入库时间 2022-08-23 11:52:30

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