首页> 中国专利> 基于深度学习的天宫二号成像高度计有效波高反演方法

基于深度学习的天宫二号成像高度计有效波高反演方法

摘要

本发明公开了一种基于深度学习的天宫二号成像高度计有效波高反演方法。具体反演过程如下:从天宫二号影像数据中获取后向散射系数、入射角和图像参数,其中图像参数包括图像幅度谱、图像相位谱、图像一阶矩、图像二阶矩和图像三阶矩数据;获取海面风速;基于获取的后向散射系数、入射角、图像参数和海面风速,采用预设的天宫二号成像高度计有效波高深度学习反演模型,计算得到有效波高。本发明解决了传统高度计只能进行星下点一维观测反演的技术问题,实现了二维观测数据宽刈幅的有效波高反演。

著录项

  • 公开/公告号CN111950438B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国人民解放军国防科技大学;

    申请/专利号CN202010794111.X

  • 发明设计人 郭朝刚;艾未华;乔俊淇;刘茂宏;

    申请日2020-08-10

  • 分类号G06K9/00(20060101);G06K9/62(20060101);G06N3/04(20060101);G06N3/08(20060101);G01S7/48(20060101);

  • 代理机构32224 南京纵横知识产权代理有限公司;

  • 代理人张欢欢

  • 地址 211101 江苏省南京市江宁区双龙大道60号

  • 入库时间 2022-08-23 11:52:23

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号