公开/公告号CN109100382B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-05-28
原文格式PDF
申请/专利号CN201810842815.2
申请日2018-07-27
分类号G01N23/2202(20180101);
代理机构11260 北京凯特来知识产权代理有限公司;
代理人郑立明;赵镇勇
地址 100160 北京市丰台区南四环西路188号总部基地十八区23号楼
入库时间 2022-08-23 11:51:58
机译: 共聚焦显微镜,荧光测量方法和使用共聚焦显微镜的偏振光测量方法
机译: 聚焦状态检测元件,扫描电子显微镜,聚焦条件调整方法,聚焦调整方法和聚焦深度测量方法
机译: 自动聚焦显微镜中的聚焦测量方法,涉及利用物体的电子表示的强度变化来确定当前聚焦值与最佳聚焦值之间的关系。