一种多扫描链的大规模集成电路测试数据压缩方法

摘要

一种多扫描链的大规模集成电路测试数据压缩方法，其特征是通过约束的输入精简进行宽度压缩，再通过LFSR和折叠计数器编码进行两维压缩，本发明方法是一种非侵入式的测试数据压缩方法，无需改变被测试的电路结构，尤其是电路中扫描链的结构，将约束输入精简技术，线性反馈移位寄存器LFSR编码和折叠计数器技术有机的结合在一起，降低所需测试数据的存储容量，缩短测试应用时间。