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一种基于负曲率光子晶体光纤的SPR低折射率传感器

摘要

本发明公开了一种基于负曲率光子晶体光纤的SPR低折射率传感器,其特征在于:SPR传感器基于光子晶体光纤结构,光子晶体光纤基底为(1),光子晶体光纤的芯子(2)由两层空气壁(3)、(4)围绕形成,每层空气壁由六个相同负曲率的扇形环构成,光子晶体光纤的包层外壁涂覆有金属(5),金属由待测物质(6)包覆,金属材料具有金属表面等离子体谐振SPR效应,与光纤中的纤芯模式发生耦合,在谐振波长处出现损耗峰,当外部待测物质(6)发生变化时,损耗峰波长漂移,通过观测波长的漂移,实现折射率的测量,传感器具有偏振无关特性且适用于低折射率范围为1.2‑1.33,传感器灵敏度最高达到12000nm/RIU,该传感器为低折射率物质的测量与监测提供重要的器件支持。

著录项

  • 公开/公告号CN109752345B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-05-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京交通大学;

    申请/专利号CN201910057172.5

  • 发明设计人 裴丽;王建帅;王吉;吴良英;

    申请日2019-01-22

  • 分类号G01N21/41(20060101);

  • 代理机构11430 北京市诚辉律师事务所;

  • 代理人王玉

  • 地址 100044 北京市海淀区西直门外上园村3号

  • 入库时间 2022-08-23 11:46:41

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