基于信息熵的集成电路抗故障注入攻击安全评估方法

摘要

本发明本发明公开了基于信息熵的集成电路抗故障注入攻击安全评估方法，使用信息熵表征在故障注入下泄露的信息量，作为电路安全性评估的量化指标。步骤如下：(1)确定待测密码电路，指定故障模型；(2)根据待测电路和故障模型，计算该故障模型对电路造成的理论信息泄露量；(3)生成符合故障模型的故障值；(4)将生成的故障值注入待测电路中，得到故障条件下的错误输出；(5)根据实际注入的故障值和故障条件下的错误输出，计算实际故障注入所得到的实测信息泄露量；(6)根据步骤(2)得到的理论信息泄露量与步骤(5)得到的实测信息泄露量，计算得到安全系数r，将r与预先设定的安全评估等级进行比较，得到对电路的安全等级评估。