公开/公告号CN110455774B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-05-04
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;
申请/专利号CN201910838468.0
申请日2019-09-05
分类号G01N21/65(20060101);
代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;
代理人刘新雷
地址 130033 吉林省长春市长春经济技术开发区东南湖大路3888号
入库时间 2022-08-23 11:43:57
机译: 干涉仪,特别是用于光谱仪-成像仪变换后的多路复用傅里叶具有污迹,并且该光谱仪-成像仪包括
机译: 相移干涉条纹同时成像装置中分支成像机理的调整方法
机译: 用于通过干涉仪将场景的光束引导到成像和/或非成像傅立叶变换光谱仪的检测器的装置和优化该装置的方法