首页> 中国专利> 微波表面电阻连续频谱测试装置

微波表面电阻连续频谱测试装置

摘要

本发明公开了微波表面电阻连续频谱测试装置,包括固定介质柱和移动介质柱;所述固定介质柱设置于待测超导薄膜上,且移动介质柱连续运动并与固定介质柱产生相对位移,使得移动介质柱和固定介质柱之间电磁场变化。本发明微波表面电阻连续频谱测试装置,通过将固定介质柱和移动介质柱进行相对位移,实现了谐振频率的连续变化从而测得样品微波表面电阻的连续频率谱特性,实现准确连续无损的检测。

著录项

  • 公开/公告号CN109239457B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201810982741.2

  • 申请日2018-08-27

  • 分类号G01R23/16(20060101);G01R27/02(20060101);

  • 代理机构51220 成都行之专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人李朝虎

  • 地址 610000 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2022-08-23 11:40:53

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号