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一种用于测量介电常数的微型双层磁耦合微波传感器

摘要

本发明公开一种用于测量介电常数的微型双层磁耦合微波传感器。本发明包括介质基板、顶层SRRs环、底层馈电环;介质基板的底层正中心印刷馈电环并延伸出馈电长脚用于连接SMA连接头;介质基板的顶层正中心印刷耦合SRRs环;沿着SRRs的两条平行的金属条为电场强度最大的区域,该区域放置待测样本最大化传感器对介电常数的灵敏度。该传感器不仅具备对介电常数精确测量的优良性能(高Q值和高灵敏度),而且具有很高的实用性(超小的电尺寸和强抗干扰能力)。

著录项

  • 公开/公告号CN108872710B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 杭州电子科技大学;

    申请/专利号CN201810419905.0

  • 申请日2018-05-04

  • 分类号G01R27/26(20060101);

  • 代理机构33240 杭州君度专利代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人黄前泽

  • 地址 310018 浙江省杭州市下沙高教园区2号大街

  • 入库时间 2022-08-23 11:40:10

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