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SLM加工过程构件表层能量分布监测装置及方法

摘要

本发明提供了一种SLM加工过程构件表层能量分布监测装置及方法,包括激光光源,还包括高速摄像机、红外热像仪,以及通过控制信号线缆与激光光源、高速摄像机、红外热像仪电连接的同步触发源;其中高速摄像机用于采集构件表面加工图像;并发送加工图像至HSI色彩识别系统;红外热像仪用于辅助温度标定,并且标定过程中与所述HSI色彩识别系统具有相同的时间轴坐标;同步触发源向激光光源、高速摄像机、红外热像仪输出开关信号。本发明可对常规监测时的加工缺陷进行采集,并实时处理图像表征其能量分布,对内部潜在缺陷预警,效率较高;辅以红外热成像仪的表层温度分布监测,对结果进行标定、校对,可获取绝对温度数值,便于对结构件质量进行预分析。

著录项

  • 公开/公告号CN108956611B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN201710828631.6

  • 发明设计人 杨舟;雒建斌;

    申请日2017-09-14

  • 分类号G01N21/88(20060101);G01J5/00(20060101);

  • 代理机构11465 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人崔自京

  • 地址 100000 北京市海淀区清华园

  • 入库时间 2022-08-23 11:40:09

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