首页> 中国专利> 基于Gabor多特征提取和优选的复合轨枕孔隙缺陷识别方法

基于Gabor多特征提取和优选的复合轨枕孔隙缺陷识别方法

摘要

本发明公开了一种基于Gabor多特征提取和优选的复合轨枕孔隙缺陷识别方法。首先,基于复合轨枕对X射线的衰减特性,利用优选的检测系统参数对复合轨枕进行X射线透照检测,获得原始投影图像;然后,对原始射线图像进行预处理,包括行最小值降噪和模糊增强;接着,利用设计的Gabor滤波器组对射线图像进行多尺度多方向特征提取,并按照能量准则筛选得到孔隙缺陷特征突显的图像;之后,将特征图像向量化,并进行去均值和归一化,利用模糊C均值方法完成孔隙缺陷的聚类和分割;最后,使用形态学开闭运算,去除杂点与伪缺陷,计算缺陷几何特征参数,实现孔隙缺陷的定量识别。

著录项

  • 公开/公告号CN110060253B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安交通大学;

    申请/专利号CN201910370740.7

  • 发明设计人 张周锁;孟梨斌;赵海强;贾俊康;

    申请日2019-05-06

  • 分类号G06T7/00(20170101);G06T5/00(20060101);G06T5/20(20060101);G06T7/11(20170101);G06K9/46(20060101);G06K9/62(20060101);G01N23/04(20180101);

  • 代理机构61200 西安通大专利代理有限责任公司;

  • 代理人徐文权

  • 地址 710049 陕西省西安市咸宁西路28号

  • 入库时间 2022-08-23 11:39:58

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号