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基于高斯金字塔的EPR电缆绝缘老化状态测评方法

摘要

本发明公开了一种基于高斯金字塔的EPR电缆绝缘老化状态测评方法,包括步骤:采集实际运行电缆与待检测电缆的局部放电谱图信息、提取老化特征因子和根据老化特征因子估算电缆绝缘老化状态。本发明能准确、高效地估算EPR电缆绝缘老化状态,大量地降低检修工作量。

著录项

  • 公开/公告号CN110632482B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西南交通大学;

    申请/专利号CN201911063494.7

  • 申请日2019-11-03

  • 分类号G01R31/12(20060101);G06T3/00(20060101);

  • 代理机构51245 成都盈信专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人崔建中

  • 地址 611756 四川省成都市高新区西部园区西南交通大学科学技术发展研究院

  • 入库时间 2022-08-23 11:38:54

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