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用于高能激光光强分布参数测量的光束取样器

摘要

本发明涉及一种用于高能激光光强分布参数测量的光束取样器,前面板与底板上开设若干只呈面阵排布的衰减器单元;衰减器单元包括同轴设置入射孔、衰减腔和出射孔;入射孔和衰减腔设置在前面板上,出射孔设置在底板上;衰减腔的内部靠近出射孔的一端固定有透射体;透射体前表面的中部正对入射孔的位置处设置有对激光高反射率的漫反射膜;入射激光束经过漫反射膜漫反射、再经过衰减腔内腔的多次漫反射匀化和透射体的透射后,经出射孔出射;入射孔为倒锥孔,从迎光面处至衰减腔内腔孔径逐渐增大。实现了高空间分布的激光束取样和测量,克服了传统积分球球体带来的空间尺寸较大、在排布成二维阵列时无法实现高空间分辨率的激光参数测量的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN109579983B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西北核技术研究所;

    申请/专利号CN201811614441.5

  • 申请日2018-12-27

  • 分类号G01J1/04(20060101);G01J1/42(20060101);

  • 代理机构61211 西安智邦专利商标代理有限公司;

  • 代理人汪海艳

  • 地址 710024 陕西省西安市灞桥区平峪路28号

  • 入库时间 2022-08-23 11:37:32

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