公开/公告号CN110363767B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-04-02
原文格式PDF
申请/专利权人 中国特种设备检测研究院;
申请/专利号CN201910735009.X
申请日2019-08-09
分类号G06T7/00(20170101);G06T7/70(20170101);G01N29/44(20060101);
代理机构11368 北京世誉鑫诚专利代理有限公司;
代理人李世端
地址 100029 北京市朝阳区和平街西苑2号楼
入库时间 2022-08-23 11:37:25
机译: 基于超声lamb波层析成像的缺陷检测方法及装置
机译: 一种通过超声波检测细长工件的缺陷的方法。
机译: 一种根据脉冲回波利用超声工件进行沿,对角和对角线缺陷测试的方法