基于小波变换的产品表面缺陷检测方法、存储器和处理器

摘要

本发明公开一种基于小波变换的产品表面缺陷检测方法、存储器和处理器，本发明首先读取产品的原始图像，然后输入小波核尺寸和小波方向，利用小波变换计算生成小波核，再利用小波核和产品的原始图像进行卷积运算得到滤波图像，实现自适应滤除复杂的图像背景，凸显缺陷区域；对于不同类型的缺陷，可输入不同尺寸的小波核及小波方向来进行缺陷检测，实现一种方法检测不同类型缺陷的目的，无需针对某类或某几类缺陷分别开发图像处理算法，极大降低了开发成本。