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一种光放大器的光学参数的测量方法

摘要

本发明公开了一种光放大器的光学参数的测量方法,以相邻信号峰中间点位作为取样点,两个相邻的取样点之间的距离作为放大自发辐射(ASE)噪声的带宽Btotal,并采用二次曲线拟合计算信号峰的带宽Bsig内ASE光的总功率PASE,sig,进而计算光放大器的光学参数,相对于现有的EDFA的测量方法中根据经验选取一个固定的ASE噪声取样带宽Btotal并假定ASE谱是平坦的一次曲线来说,测量得到的光放大器的光学参数更真实,结果更精确。

著录项

  • 公开/公告号CN109194390B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-03-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 无锡恒纳信息技术有限公司;

    申请/专利号CN201810909390.2

  • 发明设计人 徐杰;

    申请日2018-08-10

  • 分类号H04B10/079(20130101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 214000 江苏省无锡市滨湖区中关村软件园1号楼203-62室

  • 入库时间 2022-08-23 11:37:04

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